Jader Alves de Lima Filho,

Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer –

Abstract:

Seminário sobre:

– Conceitos básicos dos efeitos de radiação em dispositivos MOSFET e BJTs
– Efeitos TID e SEE
– Blindagem
– Endurecimento à radiação de CIs analógicos e digitais através de técnicas de:
i) layout
ii) hardware (desenho e redundância)
iii) software
– Nova topologia de transistores de potência endurecidos à radiação. Resultados Experimentais.

 

Date: 2010-Jul-13     Time: 11:00:00     Room: VA2 – Pavilhão de Civil do IST Alameda

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